Conférence Loftware :

Traçabilité et étiquetage critique dans l’Industrie

6 novembre 2025, chez SAP : Tour SAP, 35 rue Alsace, 92300 Levallois Perret

Critical Labeling Paris_Registration_510x170_2.png


Participez à notre conférence dédiée à l’étiquetage critique 
dans l’industrie !

Loftware a le plaisir de vous inviter à une matinée d’échanges autour des enjeux de la traçabilité et de l’étiquetage industriel.

Date : Jeudi 6 novembre 2025
Horaires : De 8h30 à 14h00
Lieu : SAP – Tour SAP, 35 rue Alsace, 92300 Levallois-Perret

Au programme (en cours de finalisation) :

  • Présentation des avantages du standard GS1 par un expert de GS1 France
  • Présentation des solutions SAP
  • Partage d’expertise par Zebra
  • Présentation de LRS
  • Aperçu de la stratégie Loftware

La matinée se conclura par une visite du SAP Experience Center, suivie d’un cocktail déjeunatoire — l’occasion idéale pour les experts d’échanger des idées et des perspectives autour de l’étiquetage industriel.

Nombre de place limité, inscription obligatoire, conférence réservée aux utilisateurs finaux